http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/69736 2026-04-09T20:02:20Z 2026-04-09T20:02:20Z Приходько, В.И. Турбин, П.В. http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/98837 2016-04-19T00:02:28Z 2007-01-01T00:00:00Z

Описание спиральных магнитных проводников на основе ферми-жидкостной модели Приходько, В.И.; Турбин, П.В. Рассмотрена ферми - жидкостная модель магнитных проводников [2, 3], учитывающая взаимодействие s-электронов (электронов проводимости) и атомов с незаполненными оболочками (d, f, ... - электроны), обладающих локализованными магнитными моментами.; Розглянуто фермі - рідинна модель магнітних провідників [2, 3], що враховує взаємодію s-електронів (електронів провідності) і атомів з незаповненими оболонками (d, f, ... - електрони), що володіють локалізованими магнітними моментами.; The fermi-liquid model of magnetic conductors [2, 3], wich is taking into account the interaction between s-electrons (electrons conductivity) and atoms with the empty levels (d, f, ... - electrons) wich prosses the localized magnetic moments was considered.

2007-01-01T00:00:00Z Нестеренко, С.В. Джелали, В.В. http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/98836 2016-04-19T00:02:15Z 2007-01-01T00:00:00Z

Образование полупроводниковой наноструктуры на поверхности аустенитной стали Нестеренко, С.В.; Джелали, В.В. С помощью электрохимических исследований показано, что на межфазных границах 10Х20Н9Г6/H₂SO₄ – 1 М, легированных x% масс. Y, при различных температурах существует полупроводниковый слой n-типа, обеспечивающий повышение коррозионной стойкости. Анализ импедансных данных в рамках теории Мотта-Шоттки указывает, что для данной системы полупроводниковая пленка вырождена, концентрация легирующей примеси ND превышает 1⋅10²⁷ м⁻³ и поэтому распределение носителей заряда подчиняется статистике Ферми-Дирака. Микроструктурные исследования, определение микрохимической неоднородности, состава и распределения НВ в наплавленном металле выполняли с помощью электронных микроскопов “Comebаx” фирмы “Comeсa” и “Comscan-4” с приставкой для микрорентгеноспектрального анализа “Link System 860”. Определение состава пассивных пленок проводили с помощью метода электронной ОЖЕ-спектроскопии на спектрометре JAMP-10S фирмы JEOL. Установлено, что сварные швы, микролегированные РЗМ, обладают в 3 – 4 раза большей коррозионной стойкостью по сравнению со сварными швами, полученными с помощью серийных электродов.; Внаслідок електрохимічних досліджень було показано, що на міжфазових межах 10Х20Н9Г6/ H₂SO₄ – 1M, що бyли легіровані х% за масою Y, при різних температурах існує напівпровідниковий шар n-типу, що забезпечує підвищення корозійної стійкості. Аналіз даних імпедансу в рамках теорії Мотта-Шотткі свідчить, що для даної системи напівпровідникова плівка є виродженою, концентрація легіруючої домішки ND перевищує 1⋅10²⁷м⁻³, і тому розподіл носіїв заряду підкоряється статистиці Фермі-Дірака. Мікроструктурні дослідження, визначення мікрохимічної нерівномірності, складу та розподілу НВ у наплавленому металі виконували за допомогою електронних мікроскопів “Comebax” фірми “Comeca” та “Comscan-4” з пристрієм для мікрорентгеноструктурних аналізів “Link System 860”. Визначення складу пасивних плівок проводили за допомогою методу електронної Оже-спектроскопії на спектрометрі “JAMP-10S” фірми “JEOL”. Було встановлено, що зварювальні шви, що були мікролегіровані РЗМ, мають в 3 – 4 рази більшу корозійну стійкість в порівняннізізварювальними швами, що були виготовлені за допомогою серійних електродів.; The thesis is paper to investigation of welds corrosion resistance of austenitic chrome-nickel (18-8) and chrome-nickel-molybdenum (18-8-2) stainless steel samples. The welds were micro-alloyed with rareearth metals (REM) and their compounds. Investigation has shown that the metal anodic solution was hindered and metal passivation occured more readily when welds were micro-alloyed by Y and/or its compounds and by complex mixture of Y and Ce. It was established that auto solution currents after full passivation REM-containing Cr-Ni-Mo metal are smaller than it has been observed for initial variant. Yttrium optimal content was 0,0025 – 0,0032 mass.%.A structural change leads to the micro-chemical heterogeneity decrease (especially for samples with Ni and Cr) and ensures continuous formation of passive protective films enriched with REM. The analysis of dependences Cω→∞^−2 = f(Е) were with usage of the theory Mott-Schottka’s and Grilikhes’s approach enabled to show that implantation Y in the chrome-nickel alloy converts its surface layer into the semi-conductor state. This remarkable fact leads to more uniform electrode potential distribution on metal surface of the welding compound and hinders local corrosion development.

2007-01-01T00:00:00Z Войтович, С.А. Григорчак, І.І. Аксіментьєва, О.І. Міцов, М.М. http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/98835 2016-04-19T00:02:02Z 2007-01-01T00:00:00Z

Формування гетерофазних наноструктур на основі селеніду індію, їх фізичні властивості та можливості практичного застосування Войтович, С.А.; Григорчак, І.І.; Аксіментьєва, О.І.; Міцов, М.М. Отримано наноструктури селеніду індію, з включенням нанопрошарків нітриду натрію та наступним заміщенням їх на електроактивні полімерні прошарки. Проаналізовано зміну частотних залежностей питомого опору, діелектричної проникливості,тангенса кута втрат та параметрів домішкового енергетичного спектру; Получены наноструктуры селенида индия, с включением нанослоев нитрида натрия и последующим замещением их на электроактивные полимерные прослойки. Проанализировано изменение частотных зависимостей удельного сопротивления, диэлектрической проницаемости, тангенса угла потерь и параметров примесного энергетического спектра.; In Se nanostructures with NaNO2 nanolayers impurities and their sequent substitution by electroactive polymer layers were obtained. The variation of frequency dependence of the specific resistance, the permittivity, the tangent of loss angle and impurity energetic spectrum parameters has been studied.

2007-01-01T00:00:00Z Boyko, E.B. Komarov, F.F. Jukowski, P. Karwat, C. Kolasik, M. Kozak, C. http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/98834 2016-04-19T00:02:12Z 2007-01-01T00:00:00Z

One-beam dynamic ion mixing applied to coat elements onto sophistically shaped objects Boyko, E.B.; Komarov, F.F.; Jukowski, P.; Karwat, C.; Kolasik, M.; Kozak, C. Recently suggested single-ion-beam setup for ion-beam assisted deposition (IBAD) of layers with various composition including the sputter target in a form of hollow truncated cone made of the material to be deposited allows the use of a single ion beam (e.g., noble gas) for simultaneous layer deposition and ion-beam mixing. Such a setup can also be applied for coating deposition on the surfaces having sophisticated geometric shape. In the present work single-beam IBAD was used for deposition of Ni and Mo coatings onto the surface of ball fingers. The Rutherford backscattering was used for evaluating the coating thickness distributions along the spherical surface of the aluminium ball fingers. It is shown that the results can be explained in terms of space distribution of the sputtered atoms inside the conical target.; Запропоновано систему з одним іонним пучком для іонно-асистуємого нанесення (ІАН) шарів різної композиції, яка включає мішень, що розпорошується, у формі усіченого порожнього конуса, виготовленого з матеріалу, що буде наноситися. У цій системі одночасно реалізується як нанесення шару, так і іонно-променеве перемішування його з підкладинкою. Така система може використовуватися і для нанесення покриттів на вироби довільної геометричної форми. У цій роботі однопучкове ІАН застосовувалося для осадження шарів Ni і Mo на поверхню алюмінієвих кульових пальців. За допомогою зворотного резерфордівського розсіювання іонів He+ визначався розподіл товщини покриття уздовж сферичної поверхні кульових пальців. Показано, що отримані результати можна пояснити на основі даних по просторовому розподілі рос-пилених атомів усередині полою конічної мішені.; Предложена система с одним ионным пучком для ионно-ассистируемого нанесения (ИАН) слоев различной композиции, которая включает распыляемую мишень в форме усеченного полого конуса, изготовленного из материала, который будет наноситься. В этой системе одновременно реализуется как нанесение слоя, так и ионно-луче- вое перемешивание его с подложкой. Такая система может использоваться и для нанесения покрытий на изделия произвольной геометрической формы. В настоящей работе однопучковое ИАН применялось для осаждения слоев Ni и Mo на поверхность алюминиевых шаровых пальцев. С помощью обратного резерфордовского рассеяния ионов He+ определялось распределение толщины покрытия вдоль сферической поверхности шаровых пальцев. Показано, что полученные результаты можно объяснить с точки зрения пространственного распределения распыленных атомов внутри полой конической мишени.

2007-01-01T00:00:00Z