Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2004, № 3 http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/53693 2026-04-11T12:39:57Z 2026-04-11T12:39:57Z Выставки. Конференции http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/54438 2014-02-02T01:13:15Z 2004-01-01T00:00:00Z Выставки. Конференции 2004-01-01T00:00:00Z В портфеле редакции http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/54437 2014-02-02T01:15:28Z 2004-01-01T00:00:00Z В портфеле редакции 2004-01-01T00:00:00Z Новые книги http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/54436 2014-02-02T01:15:32Z 2004-01-01T00:00:00Z Новые книги 2004-01-01T00:00:00Z Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов Павлюк, С.П. Ищук, Л.В. Кислицын, В.М. http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/54435 2014-02-02T01:13:17Z 2004-01-01T00:00:00Z Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов Павлюк, С.П.; Ищук, Л.В.; Кислицын, В.М. Для диагностики качества полупроводниковых диодов, изготавливаемых методом сварко-пайки, предлагается использовать изображение излучения кристалла. 2004-01-01T00:00:00Z