Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2006, № 3 http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52904 2026-04-06T08:51:49Z 2026-04-06T08:51:49Z Выставки. Конференции http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52925 2014-01-10T01:12:32Z 2006-01-01T00:00:00Z Выставки. Конференции 2006-01-01T00:00:00Z В портфеле редакции http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52924 2014-01-10T01:12:24Z 2006-01-01T00:00:00Z В портфеле редакции 2006-01-01T00:00:00Z Новые книги http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52923 2014-01-10T01:12:30Z 2006-01-01T00:00:00Z Новые книги 2006-01-01T00:00:00Z Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами Блецкан, Д.И. Лукьянчук, А.Р. Пекар, Я.М. http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52922 2014-01-10T01:12:27Z 2006-01-01T00:00:00Z Исследование собственных и примесных точечных дефектов в сапфировых подложках люминесцентными методами Блецкан, Д.И.; Лукьянчук, А.Р.; Пекар, Я.М. Предложено использовать люминесценцию в качестве экспресс-метода определения собственных и примесных точечных дефектов в кристаллах сапфира и сапфировых подложках. 2006-01-01T00:00:00Z