Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2007, № 3 http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52554 2026-04-16T08:12:30Z 2026-04-16T08:12:30Z В портфеле редакции http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52821 2014-01-08T01:11:48Z 2007-01-01T00:00:00Z В портфеле редакции 2007-01-01T00:00:00Z Новые книги http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52820 2014-01-08T01:11:46Z 2007-01-01T00:00:00Z Новые книги 2007-01-01T00:00:00Z Позиционирование изображений фотошаблонов в системах автоматизированного оптического контроля Крылов, В.Н. Щербакова, Г.Ю. Козина, Ю.Ю. http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52819 2014-01-08T01:11:40Z 2007-01-01T00:00:00Z Позиционирование изображений фотошаблонов в системах автоматизированного оптического контроля Крылов, В.Н.; Щербакова, Г.Ю.; Козина, Ю.Ю. Разработана система автоматизированного оптического позиционирования фотошаблонов интегральных схем, которая имеет высокие показатели помехоустойчивости и точности. 2007-01-01T00:00:00Z Автоматизированный спектрометр глубоких уровней для исследования полупроводниковых структур Бойко, Ю.В. Кузнецов, Г.В. Савицкий, С.М. Третяк, О.В. http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/52818 2014-01-08T01:11:44Z 2007-01-01T00:00:00Z Автоматизированный спектрометр глубоких уровней для исследования полупроводниковых структур Бойко, Ю.В.; Кузнецов, Г.В.; Савицкий, С.М.; Третяк, О.В. Описан автоматизированный спектрометр для исследования параметров примесных и дефектных глубоких центров, поверхностных состояний в полупроводниковых структурах методом релаксационной спектроскопии глубоких уровней. 2007-01-01T00:00:00Z