http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/51655 2026-04-30T07:02:09Z 2026-04-30T07:02:09Z http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/51673 2013-12-07T01:07:45Z 2012-01-01T00:00:00Z

Новые книги

2012-01-01T00:00:00Z http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/51672 2013-12-07T01:07:40Z 2012-01-01T00:00:00Z

Памятка автору журнала "ТКЭА"

2012-01-01T00:00:00Z http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/51671 2013-12-07T01:07:25Z 2012-01-01T00:00:00Z

Список рецензентов номера

2012-01-01T00:00:00Z Кулинич, О.А. Яцунский, И.Р. Ештокина, Т.Ю. Брусенская, Г.И. Марчук, И.А. http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/51670 2013-12-07T01:07:35Z 2012-01-01T00:00:00Z

Фотолюминесцентный метод исследования пластической деформации на границе раздела «SiO₂—Si» Кулинич, О.А.; Яцунский, И.Р.; Ештокина, Т.Ю.; Брусенская, Г.И.; Марчук, И.А. Показана возможность использования метода фотолюминесценции для изучения механизмов пластической деформации на границе «оксид кремния — кремний» в процессе получения слоев наноструктурированного кремния деформационным методом.; Показано можливість використання методу фотолюмінесценції для вивчення механізмів пластичної деформації на границі «оксид кремнію — кремній» в процесі отримання шарів наноструктурованого кремнію деформаційних методом.; The possibility of using the photoluminescence method for studying the mechanisms of plastic deformation at the boundary of "SiO₂—Si" in the process of obtaining nanostructured silicon layers by deformation.

2012-01-01T00:00:00Z