http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/51629 2026-04-18T21:25:57Z 2026-04-18T21:25:57Z Свищёв, Ю.В. http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/60109 2014-04-12T00:02:20Z 2010-01-01T00:00:00Z

Резонансное повышение добротности собственных колебаний магнитного типа в открытом резонаторе с металлическим шаровым включением Свищёв, Ю.В. Представлены результаты численного эксперимента по исследованию свойств собственных колебаний магнитного типа в открытом резонаторе со сферическими зеркалами, содержащем идеально проводящее шаровое включение. Обнаружен и исследован эффект резонансного повышения на несколько порядков добротности собственных колебаний, установлена природа этого эффекта.; Наводяться результати числового експерименту у дослідженні властивостей власних коливань магнітного типу у відкритому резонаторі зі сферичними дзеркалами, що має ідеально провідну кульову вставку. Знайдено та досліджено ефект резонансного покращення на декілька порядків добротності власних коливань, встановлено природу цього ефекту.; Numerical experiment results on properties of magnetic eigenmodes of an open spherical-mirror resonator with a spherical perfectly conducting insertion are reported. Effect of the eigenoscillation quality enhancement by several orders of magnitude has been recognized, and its nature understood.

2010-01-01T00:00:00Z Виноградов, Д.В. http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/60108 2014-04-12T00:02:18Z 2010-01-01T00:00:00Z

Кумулянтное описание усеченного произвольным образом полета Леви Виноградов, Д.В. Методом кумулянтного анализа исследованы свойства усеченного произвольным образом полета Леви. Найдена последовательность кумулянтов, характеризующая усеченное произвольным образом распределение Леви, и определена их зависимость от формы усечения. Исследовано влияние формы усечения на свойства гауссова и Леви режимов процесса.; Методом кумулянтного аналізу досліджено властивості довільним чином зрізаного польоту Леві. Знайдено послідовність кумулянтів, котра характеризує довільним чином зрізаний розподіл Леві, та визначено їх залежність від форми зрізання. Досліджено вплив форми зрізання на властивості гаусівського та Леві режимів процесу; Properties of arbitrary truncated Levy flight are investigated by the method of cumulant approach. The set of cumulants that characterizes an arbitrary truncated Levy distribution is found, their truncation shape dependence determined. The influence of truncation shape on the properties of Gaussian and Levy regimes of the process is investigated.

2010-01-01T00:00:00Z Антоненко, Ю.В. Грибовский, А.В. http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/60107 2014-04-12T00:02:33Z 2010-01-01T00:00:00Z

Частотно-селективные свойства плоского экрана конечной толщины с коаксиально-секторными отверстиями Антоненко, Ю.В.; Грибовский, А.В. Операторным методом исследованы частотные зависимости модуля коэффициента отражения экрана с коаксиально-секторными отверстиями при нормальном и наклонном падении плоских линейно поляризованных электромагнитных ТЕ- и ТМ-волн. Проведен сравнительный анализ частотно-селективных свойств экрана с коаксиально-секторными отверстиями и экрана с прямоугольными отверстиями.; Операторним методом досліджено частотні залежності модуля коефіцієнта відбиття екрану з коаксіально-секторними отворами за нормального та похилого падіння плоских лінійно поляризованих електромагнітних ТЕ-та ТМ-хвиль. Виконано порівняльний аналіз частотно-селективних властивостей екрану з коаксіально-секторними отворами та екрану з прямокутними отворами.; The operator method investigates the reflectance module of a screen with coaxial-sector apertures at normal and oblique incidence of a plane linearly polarized electromagnetic TE-and TM-mode as function of frequency. The contrastive analysis of frequency-selective properties of a screen with coaxial-sector apertures and a screen with rectan-gular apertures has been performed.

2010-01-01T00:00:00Z Назарчук, З.Т. Синявський, А.Т. http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/60106 2014-04-12T00:02:31Z 2010-01-01T00:00:00Z

Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання Назарчук, З.Т.; Синявський, А.Т. Подається метод визначення діелектричної проникності та товщини шарів плоскої шаруватої структури за результатами вимірювання коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі. В цьому методі використовується підхід до реконструкції частотної залежності всіх елементів матриці розсіювання в обмеженому діапазоні частот. Матриця розсіювання відновлюється через перерахунок виміряних коефіцієнтів відбиття від такої структури у вільному просторі та на ідеально провідній підкладці. Високої точності обчислення діелектричної проникності та товщини шарів досягнуто за рахунок ідентифікації спектральних коефіцієнтів, які виділено з елементів матриці розсіювання та описано скінченним рядом незгасаючих комплексних експонент.; Представлен метод определения диэлектрических проницаемостей и толщин слоев плоской многослойной структуры исходя из результатов измерений коэффициента отражения плоской электромагнитной волны. В этом методе используется подход к реконструкции частотной зависимости всех элементов матрицы рассеяния в ограниченном диапазоне частот. Восстановление матрицы рассеяния осуществлено путем перерасчета измеренных коэффициентов отражения от такой структуры в свободном пространстве и на идеально проводящей подложке. Высокой точности определения диэлектрической проницаемости и толщины слоев удалось достичь за счет идентификации спектральных коэффициентов, которые выделены из элементов матрицы рассеяния и представлены в виде конечного ряда незатухающих комплексных экспонент.; A new method for determination of both layers’ permittivity and thickness of a plain multilayer structure is proposed. The reflection coefficient of a plain electromagnetic wave is considered as initial data in the problem. The method is based on an approach to reconstruction of the frequency dependences of all scattering matrix elements in a limited waveband. The scattering matrix has been recovered by recalculation of the measured reflection coefficients for this structure in free space and on a perfectly-conducting screen. A high accuracy in both permittivity and thickness determination is achieved due to identification of spectral coefficients which are distinguished from scattering matrix elements and expressed as a finite series of undamped complex exponents.

2010-01-01T00:00:00Z