<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<feed xmlns="http://www.w3.org/2005/Atom" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/">
<title>Вопросы атомной науки и техники, 2010, № 2</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/14769" rel="alternate"/>
<subtitle/>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/14769</id>
<updated>2026-04-11T23:45:26Z</updated>
<dc:date>2026-04-11T23:45:26Z</dc:date>
<entry>
<title>Неравновесные колмогоровского типа распределения частиц и их приложения</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/15722" rel="alternate"/>
<author>
<name>Захаров, В.Е.</name>
</author>
<author>
<name>Карась, В.И.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/15722</id>
<updated>2011-02-01T10:03:24Z</updated>
<published>2010-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Неравновесные колмогоровского типа распределения частиц и их приложения
Захаров, В.Е.; Карась, В.И.
Представлено современное состояние исследований нестационарных и стационарных неравновесных (колмогоровского типа) функций распределения (НФР) частиц с потоком по спектру. На основе интегралов столкновений (ИС) Больцмана и в форме Ландау для нерелятивистских заряженных частиц (НЗЧ), взаимодействующих по закону Кулона с учетом статической экранировки, в однородной и изотропной среде аналитическими методами и с помощью полностью консервативных разностных схем рассмотрено формирование НФР частиц. Показано, как полученные результаты могут быть использованы для предсказания поведения проводников и полупроводников как с собственной, так и с примесной проводимостью, облучаемых пучками быстрых ионов или лазерным излучением.; Наведено сучасний стан досліджень нерівноважних (колмогорівського типу) стаціонарних та нестаціонарних розподілів частинок з потоком за спектром. На основі інтегралів зіткнень Больцмана та у формі Ландау для нерелятивістських заряджених частинок, що взаємодіють за законом Кулона з урахуванням статичного екранування, в однорідному та ізотропному середовищі розглянуто аналітичними методами та за допомогою повністю консервативних різницевих схем формування нерівноважних функцій розподілу частинок. Показано, як отримані результати можуть бути використані для передбачення поведінки провідників та напівпровідників як з власною, так і з домішковою провідністю, що опромінюються пучками швидких іонів або лазерним випромінюванням.; The modern condition of researches nonequilibrium (Kolmogorov type) stationary and non-stationary particle distributions with a flux on a spectrum is submitted. On the basis of Boltzmann collision integrals and in Landau form for not relativistic charged particles interacting under Coulomb law in view of static shielding, in homogeneous and isotropic matter by analytical methods and with the help completely conservative finite difference schemes consider formation of nonequilibrium particle distribution functions. It is shown, as the received results can be used for a prediction of behaviour of conductors and semiconductors both with own and with impurity conductivity irradiated with fast-ion beams or laser radiation.
</summary>
<dc:date>2010-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Radiation losses of electron energy in multilayer bimetallic media</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/15721" rel="alternate"/>
<author>
<name>Borts, B.V.</name>
</author>
<author>
<name>Tkachenko, I.V.</name>
</author>
<author>
<name>Tkachenko, V.I.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/15721</id>
<updated>2011-02-01T10:03:23Z</updated>
<published>2010-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Radiation losses of electron energy in multilayer bimetallic media
Borts, B.V.; Tkachenko, I.V.; Tkachenko, V.I.
Evaluation of radiation losses of the electron in inhomogeneous media is presented. Such media may appear as a composition of material layers with different dielectric constants or it may be modeled with the materials which dielectric permeability varies in the space. It is shown that in inhomogeneous media with dielectric permeability variable by harmonic law in space, the radiation losses of electron are proportional to square of parameter of inhomogeneity, that is are low. It is shown that in the inhomogeneous media with dielectric permeability varying in the space under the harmonic law, the radiation losses of the electron are proportional to square of the parameter of inhomogeneity i.e. are low. In the case when the conditions of parametric relation between eigen waves of the medium are satisfied radiation losses of electron are proportional to the parameter of inhomogeneity and are comparable to the losses during the acts of scattering.; Проведена оценка радиационных потерь энергии электрона в неоднородных средах, которые могут быть сформированы либо слоями материалов с различными диэлектрическими постоянными, либо смоделированы изменяющейся по гармоническому закону в пространстве диэлектрической проницаемостью. Показано, что в неоднородных средах с изменяющейся по гармоническому закону в пространстве диэлектрической проницаемостью радиационные потери электрона пропорциональны квадрату параметра неоднородности, т.е. малы. В случае, когда в среде выполняются условия параметрической связи собственных волн среды, которые излучаются электроном, радиационные потери электрона пропорциональны параметру неоднородности в первой степени и сравнимы с потерями, которые обусловлены элементарными актами рассеяния.; Проведена оцінка радіаційних втрат енергії електрона в неоднорідних середовищах, які можуть бути сформовані або шарами матеріалів з різними діелектричними постійними, або змодельовані діелектричною проникністю, що змінюються за гармонійним законом у просторі. Показано, що в неоднорідних середовищах з діелектричною проникністю, що змінюється за гармонійним законом у просторі, радіаційні втрати електрона пропорційні квадрату параметра неоднорідності, тобто малі. У випадку, коли в середовищі виконуються умови параметричного зв'язку власних хвиль середовища, які випромінюються електроном, радіаційні втрати електрона пропорційні параметру неоднорідності в першому ступені і порівнянні із втратами, які обумовлені елементарними актами розсіювання.
</summary>
<dc:date>2010-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Возможность измерения размеров нанокристаллов с помощью параметрического рентгеновского излучения</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/15720" rel="alternate"/>
<author>
<name>Щагин, А.В.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/15720</id>
<updated>2011-02-01T10:03:44Z</updated>
<published>2010-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Возможность измерения размеров нанокристаллов с помощью параметрического рентгеновского излучения
Щагин, А.В.
Рассматриваются естественная ширина спектрального пика параметрического рентгеновского излучения (ПРИ) из тонкого кристалла и ширина спектрального пика, обусловленная угловым разрешением эксперимента. Найдены условия, при которых естественная ширина превышает ширину, обусловленную угловым разрешением эксперимента. Показана возможность применения ПРИ для измерения толщины кристаллического слоя в нанометровом диапазоне и обсуждается постановка эксперимента на ускорителе электронов.; Розглядається природна ширина спектрального пика параметричного рентгенівського випромінювання (ПРВ) з тонкого кристала та ширина спектрального пику, зумовлена кутовим дозволом експерименту. Знайдені умови, при яких природна ширина перевищує ширину, зумовлену кутовим дозволом експерименту. Показана можливість застосування ПРВ для виміру товщини кристалічного шару в нанометровому діапазоні та обговорюється постановка експерименту на прискорювачі електронів.; The natural spectral peak width of the parametric X-ray radiation (PXR) from a thin crystal and the spectral peak width due to experimental angular resolution are considered. The conditions when the natural spectral peak width exceeds the width due to experimental angular resolution are found. A possibility for application of the PXR for measurements of the thickness of a thin crystalline layer in nanometer range is shown and experimental layout at electron accelerator is discussed.
</summary>
<dc:date>2010-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Determination of the accelerated heavy ions registration threshold in multilayered polymeric films</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/15719" rel="alternate"/>
<author>
<name>Vorobyova, I.V.</name>
</author>
<author>
<name>Zajtsev, B.V.</name>
</author>
<author>
<name>Kobets, A.P.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/15719</id>
<updated>2011-02-01T10:03:22Z</updated>
<published>2010-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Determination of the accelerated heavy ions registration threshold in multilayered polymeric films
Vorobyova, I.V.; Zajtsev, B.V.; Kobets, A.P.
As detectors high-energy ions polymeric films from polyethyleneterephthalate (PETF) were used. Films were irradiated on the Kharkov heavy ions linear accelerator MILAC with the accelerated ions of nitrogen and argon with energy of 1 MeV/u. Multilayered samples consisted of polymeric films of a various thickness contacting with each other (3,6,10 μm) from which various combinations of thickness of contacting films were made. For revealing of tracks after irradiation samples were handled in an alkali solution. Methods of optical microscopy investigated surfaces of films and formation of tracks by the accelerated ions of argon and nitrogen was compared. Researches are carried out and thresholds of registration of the accelerated ions of an argon and nitrogen in multilayered PETF films are spotted depending on energy losses.; В качестве детекторов высокоэнергетичных ионов использовались полимерные плёнки из полиэтилентерефталата (ПЭТФ). Пленки облучались на Харьковском линейном ускорителе тяжелых ионов ЛУМЗИ ускоренными ионами азота и аргона с энергией 1 МэВ/нукл. Многослойные образцы состояли из контактирующих друг с другом полимерных пленок различной толщины (3,6,10 мкм) из которых составлялись различные комбинации толщин контактирующих пленок. Для выявления треков после облучения образцы обрабатывались в растворе щелочи. Методами оптической микроскопии исследовались поверхности пленок и проводилось сравнение формирования треков ускоренными ионами аргона и азота. Проведены исследования и, в зависимости от энергетических потерь, определены пороги регистрации ускоренных ионов аргона и азота в многослойных ПЭТФ плёнках.; Як детектори високоенергетичних іонів використовувалися полімерні плівки з поліетилентерефталату (ПЕТФ). Плівки опромінювалися на Харківському лінійному прискорювачі важких іонів ЛУМЗІ прискореними іонами азоту і аргону з енергією 1 МеВ/нукл. Багатошарові зразки складалися з контактуючих одна з одною полімерних плівок різної товщини (3,6,10 мкм). Для виявлення треків після опромінення зразки оброблялися в розчині лугу. Методами оптичної мікроскопії досліджувалися поверхні плівок і проводилося порівняння формування треків прискореними іонами аргону та азоту. Проведено дослідження методами оптичної мікроскопії і залежно від енергетичних втрат визначені пороги реєстрації прискорених іонів аргону і азоту в багатошарових ПЕТФ плівках.
</summary>
<dc:date>2010-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
</feed>
