<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<feed xmlns="http://www.w3.org/2005/Atom" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/">
<title>Фізико-хімічна механіка матеріалів, 2013, № 6</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/133282" rel="alternate"/>
<subtitle/>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/133282</id>
<updated>2026-04-25T08:23:53Z</updated>
<dc:date>2026-04-25T08:23:53Z</dc:date>
<entry>
<title>List of papers published in “Physicochemical Mechanics of Materials” in 2013</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/134211" rel="alternate"/>
<author>
<name/>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/134211</id>
<updated>2018-06-13T00:05:08Z</updated>
<published>2013-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">List of papers published in “Physicochemical Mechanics of Materials” in 2013
</summary>
<dc:date>2013-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>140 років Науковому товариству імені Шевченка:  внесок О.М. Романіва у розвиток української науки</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/134210" rel="alternate"/>
<author>
<name>Никифорчин, Г.М.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/134210</id>
<updated>2018-06-13T00:05:26Z</updated>
<published>2013-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">140 років Науковому товариству імені Шевченка:  внесок О.М. Романіва у розвиток української науки
Никифорчин, Г.М.
14–15 жовтня 2013 р. у Львові урочисто відзначили 140-річчя від часу заснування Наукового товариства ім. Шевченка (НТШ) – всесвітньої української академічної організації, заснованої у Львові в 1873 р.
</summary>
<dc:date>2013-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Підвищення точності вихрострумового контролю електропровідності матеріалу та товщини  діелектричного покриву оболонок</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/134209" rel="alternate"/>
<author>
<name>Тетерко, А.Я.</name>
</author>
<author>
<name>Учанін, В.М.</name>
</author>
<author>
<name>Гутник, В.І.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/134209</id>
<updated>2018-06-13T00:05:36Z</updated>
<published>2013-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Підвищення точності вихрострумового контролю електропровідності матеріалу та товщини  діелектричного покриву оболонок
Тетерко, А.Я.; Учанін, В.М.; Гутник, В.І.
На основі побудови двопараметрової нелінійної моделі зворотної функції перетворення системи “вихрострумовий первинний перетворювач–об’єкт контролю” запропоновано метод вимірювання питомої електричної провідності матеріалу і товщини діелектричного покриву оболонок. Метод забезпечує суттєве зменшення похибок оцінок зазначених параметрів за їх одночасної зміни під час контролю, підвищення достовірності результатів діагностики стану контрольованого об’єкта, а також принципово спрощує апаратурну та програмну реалізацію контролю.; На основе построения двухпараметровой нелинейной модели обратной функции преобразования системы “вихретоковый первичный преобразователь–объект контроля” предложен метод измерения удельной электропроводности материала и толщины диэлектрического покрытия оболочек. Метод обеспечивает существенное уменьшение погрешностей оценки указанных параметров при одновременном изменении их в процессе контроля, повышение достоверности результатов диагностики состояния контролируемого объекта, а также принципиально упрощает аппаратурную и программную реализацию контроля.; The method of measuring the specific electric conductivity of the material and thickness of the dielectric coating of shells, based on construction of two-parameter non-linear inverse function of transformation of the system “Eddy current primary transformer–control object” is proposed. The method provides a significant decrease in errors when evaluating the mentioned parameters under their simultaneous variation during testing, increase of diagnostic results reliability of the state of the object under control, and also greatly simplifies its tool and software realization.
</summary>
<dc:date>2013-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
<entry>
<title>Визначення резонансних частот під час зондування  пружною SH-хвилею імпедансного дефекту на межі жорсткого з’єднання пластини і півпростору</title>
<link href="http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/134208" rel="alternate"/>
<author>
<name>Войтко, М.В.</name>
</author>
<id>http://dspace.nbuv.gov.ua:80/handle/123456789/134208</id>
<updated>2018-06-13T00:05:14Z</updated>
<published>2013-01-01T00:00:00Z</published>
<summary type="text">Визначення резонансних частот під час зондування  пружною SH-хвилею імпедансного дефекту на межі жорсткого з’єднання пластини і півпростору
Войтко, М.В.
Розглянуто задачу дифракції пружної SH-хвилі на смужковій імпедансній поверхні жорстко закріпленого краю нескінченного пружного шару. Для розв’язання задачі використано метод Вінера–Хопфа. Досліджено власні значення оператора задачі, які відповідають резонансним коливанням динамічної системи на основній моді. Побудовано залежності першої вітки коренів характеристичного рівняння від відношення довжини тріщини до товщини пластини для різних значень імпедансу дефекту.; Рассмотрена задача дифракции упругой SH-волны на полосковой импедансной поверхности жестко закрепленного края бесконечного упругого слоя. Для решения задачи использован метод Винера–Хопфа. Исследованы собственные значения оператора задачи, соответствующие резонансным колебаниям динамической системы на основной моде. Построены зависимости первой ветки корней характеристического уравнения от отношения длины трещины к толщине пластины для различных значений импеданса дефекта.; The problem of diffraction of elastic SH-waves on the impedance surface of the strip with rigidly connected edges of the infinite elastic layer is considered. The problem is formulated in terms of the Wiener–Hopf equation. The eigen values of the problem, corresponding to resonant vibrations of a dynamical system on the main mode, are investigated. The dependences of the first branch of the roots of characteristic equation on the ratio of crack length to the plate thickness for different values of defect impedance are constructed.
</summary>
<dc:date>2013-01-01T00:00:00Z</dc:date>
</entry>
</feed>
