В данной работе исследован промежуточный слой в структуре барьера Шоттки Al-pCdTe.
Рентгенофазный анализ и фотоэлектрический метод исследования показали, что промежуточный слой между Al и pCdTe достаточно сложен по составу. В нем имеются все три α-β-γ
модификации Al₂O₃ и тонкий слой композитного материала c составом (С60)1-x-(СdTe)x с x ≥ 0.5. Общая толщина промежуточного слоя согласно емкостным и рентгеноструктурным
измерениям составляет не более ~200 Å. Показано, что в структуре Al-pCdTe базовый материал, в основном, состоит из однородного слоя CdTe кубической модификации.
У даній роботі досліджений проміжний шар у структурі бар’єра Шоттки Al-pCdTe. Рентгенофазний аналіз і фотоелектричний метод дослідження показали, що проміжний шар між Al і
pCdTe досить складний за складом. У ньому є всі три α-β-γ модифікації Al₂O₃ і тонкий шар
композитного матеріалу із складом (С60)1-x-(СdTe)x з x і 0.5. Загальна товщина проміжного
шару відповідно до ємнісних і рентгеноструктурних вимірів становить не більше ~200 Å. Показано, що в структурі Al-pCdTe базовий матеріал, в основному, складається з однорідного шару
CdTe кубічної модифікації.
In the given work the intermediate layer in structure of barrier Шоттки Al-pCdTe is investigated.
Рентгенофазный the analysis and a photo-electric method of research have shown, that the intermediate
layer between Al and pCdTe is combined enough on structure. In it there are all three α-β-γ updatings
Al₂O₃ and a thin layer of a composit material c structure (С60)1-х-(СdTe)x
with x ≥ 0.5. The general
thickness of an intermediate layer according to capacitor and roentgenostructuring to measurements
makes no more than ∼200 Å. It is shown, that in structure Al-pCdTe a base material, basically, consists
of homogeneous layer CdTe of cubic updating.
