Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України
періодичних видань НАН України
Degradations of semiconductor devices under pulsed heat overloading
Репозиторій DSpace/Manakin
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Degradations of semiconductor devices under pulsed heat overloading
Тема:
Рlasma Dynamics and Plasma-Wall Interaction
УДК:
621.382
Посилання:
Degradations of semiconductor devices under pulsed heat overloading / V.I. Chumakov // Вопросы атомной науки и техники. — 2000. — № 3. — С. 96-98. — Бібліогр.: 7 назв. — англ.
Дата:
2000
Переглядів:
890
Завантажень:
322
Анотація:
The linear heat model of degradations of semiconductor devices under pulsed electric overloading has been constructed. Expressions for temporal dependencies of the temperature under different forms of pulse of current are obtained.
