Formulation of criterion functional and set of constraints in problems of physical settings designing

Abstract

Characteristics of semiconductor spectrometer and neutronography setting were investigated using system analysis methods.

Розглянуто вплив параметрів напівпровідникового спектрометру з CdZnTe на енергетичну роздільність та вплив параметрів системи формування пучку на потік нейтронів для нейтронографічного пристрою.

Рассмотрено влияние параметров полупроводникового спектрометра на основе CdZnTe на энергетическое разрешение и влияние параметров системы формирования пучка на поток нейтронов для нейтронографической установки.