Для гомологического ряда моноалкилсульфосукцинатов натрия от С₁₀ до
С₁₄ по данным кондуктометрии определены критические концентрации
мицеллообразования и точки Крафта; с использованием метода Эванса
рассчитаны значения степени связывания противоионов мицеллами и
энергии Гиббса мицеллообразования. Значения степени связывания противоионов и энергии Гиббса по абсолютной величине выше, чем для ПАВ
с однозарядными анионами с той же длиной углеводородного радикала.
Critical micelle-formation concentrations and Kraft points of sodium
monoalkyl sulfosuccinates homologues from C₁₀ to ₁₄ are determined by conductometry.
Degrees of counter-ion binding by micelles are calculated by the
Evans’ method, and then values of the Gibbs free energy of micelle formation
are found. Magnitudes of counter-ion-binding degrees and values of the
Gibbs free energy are higher than those are for surfactants with singly
charged anions of the same hydrocarbon-radical length.
Для гомологічного ряду моноалкілсульфосукцінатів натрію від С₁₀ до С₁₄
за даними кондуктометрії визначено критичні концентрації міцелоутворення і точки Крафта; з використанням методи Еванса розраховано значення ступеня зв’язування протийонів міцелами і енергії Гіббса міцелоутворення. Значення ступеня зв’язування протийонів і енергії Гіббса за
абсолютною величиною вище, ніж для ПАР з однозарядними аніонами з
тією ж довжиною вуглеводневого радикалу.