Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ)

Домашня сторінка
→
Загальнонаукова періодика
→
Доповіді Національної академії наук України
→
Доповіді НАН України, 2010
→
Доповіді НАН України, 2010, № 06
→
Переглянути статтю

Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ)

Інші назви: The investigation of peculiarities of structure of boundaries in С60 films by high resolution electron microscopy (HREM)

Тема: Матеріалознавство

УДК: 539.25:620.187

URI: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/29833

Посилання: Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ) / Ю.М. Солонiн, К.О. Грайворонська // Доп. НАН України. — 2010. — № 6. — С. 97-102. — Бібліогр.: 4 назв. — укр.

Дата: 2010

Завантажень: 537

Дослідження особливостей структури границь в плівках С60 методом електронної мікроскопії високої роздільної здатності (ЕМВРЗ)

Анотація:

Методом електронної мiкроскопiї високої роздiльної здатностi (ЕМВРЗ) у суцiльних плiвках фулериту C60 встановлено iснування двох типiв границь мiж кристалiтами. По-перше, це практично iдеальнi когерентнi границi мiж двiйниками. По-друге, некогерентнi границi, що iнiцiюють утворення множинних дефектiв пакування в одному iз прилеглих зерен.

By means of high resolution electron microscopy (HREM), two types of crystallite boundaries are found in fullerite C60 thin films: practically ideal coherent boundaries between twins and incoherent boundaries initiating the formation of multiple stacking faults in one of the adjacent grains.

Показати повний запис статті