Представлены результаты исследования поляризованных спектров комбинационного рассеяния
света в монокристаллах ZnSiF₆.6H₂O и NiSiF₆.6D₂O в интервале температур 2-300 К. Установлено.
что при низких температурах кристаллы ориентационно упорядочены. Для описания процессов
ориентационного разупорядочения предложена модель, в рамках которой вращательное движение
комплекса SiF₆²⁻ задается двухъямной асимметричной потенциальной функцией. Параметры модели
определены из температурного поведения линий спектров комбинационного рассеяния света.
Вычисленные значения концентраций для двух ориентационных положений комплекса SiF₆²⁻ при
комнатной температуре хорошо совпадают с полученными по рентгеноструктурным данным.
Подано результата досліджень поляризованих спектрів комбінаційного розсіяння світла в
монокристалах ZnSiF₆.6H₂O і NiSiF₆.6D₂O в інтервалі температур 2-300 К. Встановлено, що при
низьких температурах кристали орієнтаціино упорядковані. Для опису процесів орієнтаціиного
розупорядкування запропоновано модель, у рамках якої обертальний рух комплексу SiF₆²⁻ задається
двох’ямною асиметричною потенційною функцією. Параметри моделі визначено із температурної
поведінки ліній спектрів комбінаційного розсіяння світла. Обчислені значення концентрацій для
двох орієнтаційних положень комплексу SiF₆²⁻ при кімнатній температурі добре співпадають з
отриманими по рентгеноструктурним даним.
The results of investigations of polarized Raman
spectra in ZnSiF₆.6H₂O и NiSiF₆.6D₂O single
crystals are presented tor the temperature interval
2-300 K. It is found that the crystals are orientationally ordered at low temperatures A model is
proposed to describe the processes ot orientational
ordering. Within the limits of the model, the rotational motion of the SiF₆²⁻ complex is given by a
two-well asymmetric potential function. The parameters of the model is determined from the temperature
behavior of the Raman spectra lines. The calculated
values ot concentration tor two orientational states
of the SiF₆²⁻ complex are in a good agreement with
the x-ray data at room temperature