Методами полевой ионной микроскопии исследовано атомное строение поверхностей раздела в аморфно-кристаллическом вольфраме, полученном сверхбыстрой закалкой из жидкой фазы. Установлена высокая степень локализации нарушений и некогерентность межфазных границ. Координаты атомов на границах раздела соответствуют либо кристаллической, либо аморфной фазе. Переходные области с промежуточным расположением атомов наблюдались лишь в окрестности участков сопряжения плотноупакованных кристаллографических плоскостей и параплоскостей.
Методами польової іонної мікроскопії досліджено атомну будову поверхонь розділу в аморфно-кристалічному вольфрамі, одержаному надшвидким гартуванням з рідкої фази. Встановлено високу міру локалізації порушень та некогерентність межфазних границь. Координати атомів на границях розділу відповідають або кристалічній, або аморфній фазі. Перехідні області з проміжним розташуванням атомів спостерігались лише поблизу місць зіткнення щільноупакованих кристалографічних площин і параплощин.
By using field ion microscopy, the atomic structure of interfaces in an amorphous-crystalline tungsten fabricated by ultrafast quenching from the liquid phase is investigated. A high degree of localization of imperfections and interfacial incoherence are found. The coordinates of atoms at the interfaces correspond to either the crystalline or the amorphous phase. The transition regions with intermediate positions of the atoms were observed only in the vicinity of the boundaries between the close-packed crystallographic planes and paraplanes.