Распределение локальных деформаций в кристаллах алмаза по данным анализа профилей интенсивности линий Кикучи

Abstract

Предложен способ определения деформаций в кристаллах алмаза по анализу полос дифракции отраженных электронов на картинах Кикучи с использованием метода гистограмм. Определена анизотропия в распределении локальных деформаций на поверхности двух образцов алмаза, полученных методом температурного градиента в системе Fe–Al–C и методом наращивания в среде Mg–C + бор на поверхности монокристалла алмаза статического синтеза (Ni–Mn–C).

Досліджено зміни площі під перерізами смуг дифракції відбитих електронів на картинах Кікучі з використанням методу гістограм. Визначено анізотропію у розподілі локальних деформацій на поверхні двох зразків алмазу, отриманих методом температурного градієнту у системі Fe–Al–C і методом нарощування в середовищі Ni–Mn–C на поверхні монокристала алмазу статичного синтезу (Mg–C+бор).

The histogram method was used for analysis of changes of areas under sections of electron diffraction bands on Kikuchi patterns. The anisotropy of local strain distribution on the surface of two diamonds samples: one of them was obtained by temperature gradient method in Fe–Al–C system and second – in Mg–C+bor system by growth method on diamond single crystal synthesized in Ni–Mn–C system.