Погребняк, А.Д.; Якущенко, И.В.; Abadias, G.; Chartier, P.; Бондар, О.В.; Береснев, В.М.; Takeda, Y.; Соболь, О.В.; Oyoshi, K.; Андреев, А.А.; Мукушев, Б.А.
(Сверхтвердые материалы, 2013)
Методами растровой электронной и атомно-силовой микроскопии, энергодисперсионного анализа, анализа Резерфордовского обратного рассеяния ионов, рентгено-дифракционного анализа, измерениями микротвердости и трибологическими ...