Павлюк, С.П.; Савицкий, С.М.; Солтис, Р.Б.; Тищенко, И.Ю.
(Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2007)
Исследованы причины выхода из строя кристаллов полупроводниковых силовых диодов при прохождении через них импульсов ударного тока.