Каверин, М.В.; Krause-Rehberg, R.; Береснев, В.М.; Постольный, Б.А.; Колесников, Д.А.; Якущенко, И.В.; Билокур, М.А.; Жоллыбеков, Б.Р.
(Физическая инженерия поверхности, 2013)
С помощью уникальных методов: аннигиляции позитронов, микропучка протонов, Резерфордовского обратного рассеяния (RBS) ионов, микроанализа с помощью EDSX совместно с SEM,
дифракции рентгеновских лучей (XRD), рентгеновской ...