Велещук, В.П.; Власенко, О.І.; Власенко, З.К.; Хміль, Д.М.; Камуз, О.М.; Борщ, В.В.
(Оптоэлектроника и полупроводниковая техника, 2016)
Узагальнено матеріал з дослідження мікроплазмового контрольованого пробою в InGaN/GaN гетероструктурах світлодіодів та в різноманітних GaN, GaAs, GaP, SiC, Si, ZnO структурах. Установлено, що характеристики мікроплазм ...